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薄膜厚度测控技术中的干涉法的物理原理

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1 | 2010-5-17 22:49:42 | 显示全部楼层 |阅读模式

薄膜厚度测控技术中的干涉法的物理原理

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千问 | 2010-5-17 22:49:42 | 显示全部楼层

由于重力因素，薄膜的厚度并不是均与分布的，而是上面薄，下面厚，这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差，这样就导致了原光场分布相位的变化，可以在屏幕上观察到干涉条纹

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