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上一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉.若待测面光洁度高,在上板观测到的亮线与暗线平行.若待测面有突起,此处对应的光程差小于此点未突起时的光程差,所以这点的光程差与靠近劈尖的尖部某点的光程差相同,所以这点未突起时对应条痕若是亮的,现在就变暗(若原是暗的,现在就变亮),所以这点对应的条痕弯向劈尖厚部.同样分析,可知这点凹陷时,条痕弯向劈尖尖部.疑问：为什么只要考虑空气薄膜界面上发生的反射，上一块光洁度高的板上表面也有反射，他对观察结果没影响吗？ 标准件的上下表面平行，它们的反射光的相位差处处都相同——它们干涉的结果处处相同，不会有明暗条纹。另外，被测物件一般都不透明，所以就没它的下表面什么事儿了。标准件... |
