如何通过粉末x射线衍射谱获取晶体的结构信息?

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查看11 | 回复1 | 2011-12-21 10:09:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
利用 X射线粉末衍射图谱和数据,通过解析谱图可以获得样品的定性结论:是不是该物质,通过查阅相同标准物质的标准X射线衍射谱图资料,可以获得该物质晶体的晶体学参数:晶系(Sys.),空间群(S. G. ,前面列出国际符号,后面列出熊夫利符号),晶胞数据(a0,b0,c0),轴率(A= a0/b0,C= c0/b0),轴角α、β、γ。单位晶胞内分子数(Z),单位晶胞体积(V),Ref (该区数据参考文献);通过解析谱图还能得出该物质光学及其它物性数据:折射率(ε或ω分别为四方、三方、六方晶系平行于或垂直于光轴的折射率,α、β、γ分别是三斜、单斜、正交晶系的三个主折射率),光学符号(Sign),光轴角(zV),D密度,Dx基于XRD谱法测试得到的密度,熔点...
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